電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)電工電子產(chǎn)品濕熱試驗(yàn)

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  電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)

  試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 IEC60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2-1部分，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)
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  電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)

  試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)
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  電工電子產(chǎn)品濕熱試驗(yàn)

  試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)
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  電工電子產(chǎn)品溫度變化試驗(yàn)

  試驗(yàn)方法 1、試驗(yàn)Na：規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化試驗(yàn)樣品暴露在溫度快速變化的空氣或合適的惰性氣體中，交替暴露于高溫和低溫下，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)
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  電工電子產(chǎn)品穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)

  試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 IEC60068-2-7：1986（Ed2.1）環(huán)境，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)
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  電工電子產(chǎn)品長霉試驗(yàn)

  試驗(yàn)條件 試驗(yàn)方法1 經(jīng)過28d培養(yǎng)以后，確定： 1）外觀檢查確定霉菌生長程度； 2）長霉引起的物理損傷； 3）長霉條件下對功能和/或電性能的影響，具有CMA，CNAS資質(zhì)。

  2023-03-29 檢測認(rèn)證服務(wù)