MEMS器件恒定濕熱加速試驗
試驗范圍
1、MEMS傳感器:加速度傳感器、陀螺儀傳感器、壓力傳感器、慣性組合傳感器、聲學(xué)傳感器、氣體傳感器、溫度傳感器、溫度傳感器、光學(xué)傳感器、MEMS射頻器件、微型熱輻射傳感器、磁傳感器。
2、MEMS執(zhí)行器:DMD數(shù)字微鏡器件、噴墨打印頭、生物芯片、射頻MEMS、微結(jié)構(gòu)、微型揚(yáng)聲器、超聲波指紋識別等。
MEMS器件恒定濕熱加速試驗
試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 38341-2019 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) MEMS器件的可靠性綜合環(huán)境試驗方法
GB/T 26111 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) 術(shù)語
GB 2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB 2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB 2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB 2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境規(guī)程 試驗Ea:沖擊試驗方法
GB 2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Eb:碰撞試驗方法
GB 2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Fc:振動(正弦)試驗方法
健明迪檢測可靠性實(shí)驗中心具備各種MEMS器件的可靠性綜合環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸镸EMS器件提供專業(yè)的恒定濕熱加速試驗等服務(wù)。
MEMS器件恒定濕熱加速試驗
試驗背景
溫度與濕度環(huán)境可能會造成器件內(nèi)部濕度提高,或者使塑料封裝等材料含水量增高,從而可能造成器件失效或者在其他載荷作用下產(chǎn)生失效。
MEMS器件恒定濕熱加速試驗可在器件不帶電工作的情況下確定MEMS器件在溫度、濕度環(huán)境下的可靠性,試驗對象為在一定溫度和濕度環(huán)境下工作的器件。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗中心具備各種MEMS器件的可靠性綜合環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸镸EMS器件提供專業(yè)的恒定濕熱加速試驗等服務(wù)。
MEMS器件恒定濕熱加速試驗
試驗方法
1、溫濕度試驗箱中所有的待測器件均應(yīng)達(dá)到規(guī)定的溫度、濕度。若無其他規(guī)定,試驗時間應(yīng)不小于72 h。
2、試驗后立即取出器件,在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境中自然散熱和散濕2 h~48 h,一般濕度試驗應(yīng)在48 h內(nèi)完成測試,如需延長放置時間,應(yīng)將樣品保存在密封袋中,可以延長至96 h.然后在標(biāo)準(zhǔn)試驗條件下進(jìn)行測試。