通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)范圍
1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件,和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件:光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第25部分:溫度循環(huán)
GB/T 15972.52 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第52部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗(yàn)程序 溫度循環(huán)
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的機(jī)械沖擊試驗(yàn)服務(wù)。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)背景
溫度循環(huán)對于電子元器件來說是一種環(huán)境應(yīng)力測試,此外溫度循環(huán)還會加速電子管元件的老化。溫度循環(huán)加速老化的目的一般不是引起特定性能參數(shù)的退化,而是為封裝在組件中的光路的長期機(jī)械穩(wěn)定性提供額外的附加說明。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗(yàn)可確定光電子器件承受高溫和低溫的能力,以及高溫和低溫交替變化對光電子器件的影響,保證光電子器件封裝內(nèi)部的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的機(jī)械沖擊試驗(yàn)服務(wù)。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)方法
按以下程序進(jìn)行試驗(yàn):
a)試驗(yàn)前對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試;
b)將試樣放置在試驗(yàn)箱內(nèi),其位置不應(yīng)妨礙試樣周圍空氣的流動(dòng);
c)試樣在規(guī)定條件下連續(xù)完成規(guī)定的循環(huán)次數(shù);
d)完成規(guī)定的循環(huán)后,把試樣從試驗(yàn)箱移出放置24 h,使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件后進(jìn)行光電特性測試。
由于電源或設(shè)備故障原因,允許中斷試驗(yàn)。如果中斷的循環(huán)次數(shù)超過規(guī)定循環(huán)的總次數(shù)的10%時(shí),不管任何理由,試驗(yàn)應(yīng)重新從頭開始進(jìn)行。