鋰低硅X型分子篩檢測
健明迪檢測提供的鋰低硅X型分子篩檢測，檢測項目 外觀、 磨耗率、 靜態(tài)氮氣吸附量（吸附溫度(25±1)℃，檢測標(biāo)準(zhǔn) HG/T5337-2018鋰低硅X型分子篩 GB/T191包裝儲運圖示，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
鋰低硅X型分子篩檢測 檢測項目
外觀、
磨耗率、
靜態(tài)氮氣吸附量（吸附溫度(25±1)℃，1atm）、
氮氧分離系數(shù)（吸附溫度(25±1)℃）、
粒度、
振實堆積密度、
抗壓碎力、
包裝品含水量[(550±10)℃,1h]、
落粉度；
鋰低硅X型分子篩檢測 檢測介紹
鋰低硅X型分子篩是用低硅鋁比X型分子篩經(jīng)過鋰離子交換工藝處理后得到的分子篩產(chǎn)品，可用于空氣分離制氧等。
健明迪檢測可以提供鋰低硅X型分子篩檢測服務(wù)，報告具有CMA和CNAS資質(zhì)。
健明迪檢測可以提供鋰低硅X型分子篩檢測服務(wù)，報告具有CMA和CNAS資質(zhì)。
鋰低硅X型分子篩檢測 檢測標(biāo)準(zhǔn)
HG/T 5337-2018 鋰低硅X型分子篩
GB/T 191 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 6286 分子篩堆積密度測定方法
GB/T6288粒狀分子篩粒度測定方法
GB/T 6678-2003 化工產(chǎn)品采樣總則
GB/T 6679-2003 固體化工產(chǎn)品采樣通則
GB/T 6682 分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法
GB/T 8170-2008 數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定
HG/T 2783 分子篩抗壓碎力試驗方法
HG/T 5336 分子篩落粉度測定方法
GB/T 191 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 6286 分子篩堆積密度測定方法
GB/T6288粒狀分子篩粒度測定方法
GB/T 6678-2003 化工產(chǎn)品采樣總則
GB/T 6679-2003 固體化工產(chǎn)品采樣通則
GB/T 6682 分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法
GB/T 8170-2008 數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定
HG/T 2783 分子篩抗壓碎力試驗方法
HG/T 5336 分子篩落粉度測定方法
