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晶體管檢測

健明迪檢測提供的晶體管檢測,檢測項目:指標檢測,擊穿檢測,性能檢測等,檢測標準參考 ASTME1855-2010使用2N2222A硅雙極晶體管作為中子,具有CMA,CNAS認證資質。
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檢測標準參考

ASTM E1855-2010使用2N2222A硅雙極晶體管作為中子光譜傳感器和位移損失監視器的試驗方法

ASTM F996-2011利用亞閥值電流-電壓特性將由于氧化物封閉孔和界面狀態引起的電離輻射感應金屬氧化物半導體場效應晶體管閥值電壓漂移分離成若干分量的試驗方法

BS EN 120003-1993電子元器件質量評定協調體系.空白詳細規范.光電晶體管、光電復合晶體管、光電晶體管陣列

BS EN 120004-1993電子元器件質量評定協調體系.空白詳細規范:規定環境的有光電晶體管輸出的光電耦合器

BS EN 150003-1993電子元器件質量評定協調體系規范.空白詳細規范.低頻放大用管殼額定雙極晶體管

BS EN 150004-1993電子元器件質量評定協調體系規范.空白詳細規范.開關用雙極晶體管

BS EN 150007-1993電子元器件質量評定協調體系規范.空白詳細規范.高頻放大用管殼額定的雙極晶體管

BS EN 150012-1993電子元器件質量評定協調體系規范.空白詳細規范.單柵場效應晶體管

BS IEC 60747-4-1-2000微波二極管和晶體管.微波場效應晶體管.空白詳細規范

BS IEC 60747-4-2-2000半導體器件.分立器件.微波二極管和晶體管.集成電路微波放大器.空白詳細規范

BS IEC 60747-8-4-2004半導體分立器件.電力開關設備的金屬氧化物半導體場效應晶體管

BS IEC 60747-8-2000半導體器件 第8部分:場效應晶體管 替代BS 6493-1.8:1985

BS IEC 60747-9-2007分立半導體器件和集成電路.隔離柵二極晶體管(IGBTs)

CB/T 3435-2013船用繼電器修理要求

CECC 20 004- 001 ED 1-1984環境額定光電晶體管輸出光電耦合器

CECC 20 004- 002 ISSUE 3-1987環境額定光電晶體管輸出光電耦合器

CECC 20 004- 003 ED 1-1988環境額定光電晶體管輸出光電耦合器

CECC 20 004- 004 ISSUE 1-1984環境額定光電晶體管輸出光電耦合器

CECC 20 004- 006 ISSUE 1-1988SFH601輸出光電晶體管光電耦合器

CECC 20 004- 007 ISSUE 1-1988SFH610,SFH611輸出光電晶體管光電耦合器

檢測樣品:晶體管

檢測項目:指標檢測,擊穿檢測,性能檢測等。

檢測周期:7-15個工作日(參考周期)

晶體管檢測項目:指標檢測,擊穿檢測,性能檢測等。檢測周期短,費用低,實驗方案全,真正的一站式檢測服務。
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