檢測(cè)流程

1、寄樣。(咨詢(xún)工程師主要樣品量要求，給我們科研所寄樣)

2、免費(fèi)初檢。(接收到樣品以后免費(fèi)初檢小樣)

3、價(jià)格表。(初檢以后依據(jù)用戶(hù)檢驗(yàn)要求及其科學(xué)試驗(yàn)復(fù)雜度做好價(jià)格表)

4、簽訂合同保密協(xié)議書(shū)。(兩方簽訂合同保密協(xié)議書(shū)，支付支付款)

5、開(kāi)始科學(xué)試驗(yàn)。

6、7-15個(gè)工作日左右完成科學(xué)試驗(yàn)。

7、中后期業(yè)務(wù)。

我們的檢驗(yàn)優(yōu)點(diǎn)

1、能為客戶(hù)快速制定試驗(yàn)方案并且快速完成實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目

2、龐大的數(shù)據(jù)庫(kù)儲(chǔ)備，除了已知物質(zhì)，對(duì)于未知物質(zhì)分析有著更豐富的經(jīng)驗(yàn)

3、檢測(cè)周期短，檢測(cè)費(fèi)用低，實(shí)驗(yàn)方案齊全

4、工程師根據(jù)客戶(hù)需求提供定制化實(shí)驗(yàn)方案

5、36種語(yǔ)言編寫(xiě)MSDS報(bào)告服務(wù)

6、多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門(mén)取樣/寄樣檢測(cè)服務(wù)

第三方產(chǎn)品檢驗(yàn)報(bào)告作用

產(chǎn)品評(píng)估：成分分析，分析成分比例，改善生產(chǎn)缺陷，提升產(chǎn)品品質(zhì)性能

政府監(jiān)管：工商檢測(cè)，市場(chǎng)監(jiān)督，項(xiàng)目投標(biāo)招標(biāo)，申請(qǐng)退稅基金等

上市品控：保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺(tái)，商超等

打通市場(chǎng)：增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度，擴(kuò)大市場(chǎng)占有率，提高企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力，彰顯產(chǎn)品品質(zhì)

工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考

GB/T 1550-2018非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類(lèi)型測(cè)試方法

GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法

GB/T 12964-2018硅單晶拋光片

GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T 14139-2019硅外延片

GB/T 14844-2018半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法

GB/T 19921-2018硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法

GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法

GB/T 26066-2010硅晶片上淺腐蝕坑檢測(cè)的測(cè)試方法

GB/T 30453-2013硅材料原生缺陷圖譜

GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片結(jié)晶質(zhì)量測(cè)試方法

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)測(cè)試方法

GB/T 30655-2014氮化物L(fēng)ED外延片內(nèi)量子效率測(cè)試方法

GB/T 30854-2014LED發(fā)光用氮化鎵基外延片

GB/T 30857-2014藍(lán)寶石襯底片厚度及厚度變化測(cè)試方法

GB/T 32279-2015硅片訂貨單格式輸入規(guī)范

GB/T 35308-2017太陽(yáng)能電池用鍺基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片

GB/T 35310-2017200mm硅外延片

GB/T 36613-2018發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測(cè)方法