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納米薄膜檢測

來源：健明迪檢測
健明迪檢測提供的納米薄膜檢測，檢測項目：厚度檢測，缺陷檢測，指標檢測等，檢測標準參考 GB/T30447-2013納米薄膜接觸角測量方法 GB/T338，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。
納米薄膜檢測
我們的服務(wù) 納米薄膜檢測

檢測標準參考

GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法

GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

GB/T 36969-2018納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法

檢測樣品：納米薄膜

檢測項目：厚度檢測，缺陷檢測，指標檢測等。

檢測周期：7-15個工作日(參考周期)

納米薄膜檢測項目：厚度檢測，缺陷檢測，指標檢測等。檢測周期短，費用低，實驗方案全，真正的一站式檢測服務(wù)。
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